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簡(jiǎn)要描述：CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ；可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
產(chǎn)品型號(hào)：CH-12廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-01-27訪 問 量：1759詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
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CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)/應(yīng)用
大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試
同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)
大手柄驅(qū)動(dòng)，操作舒適，無回程差設(shè)計(jì)
針座平臺(tái)快速、微調(diào)升降功能
晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì)，可無縫升級(jí)
探針臺(tái)可根據(jù)客戶要求定制。
CH-12綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)
大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；
操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ；
可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
臺(tái)體規(guī)格：
型號(hào) | CH-8/CH-12 |
樣品臺(tái)尺寸 | 8英寸/12英寸 |
水平旋轉(zhuǎn) | 可360度旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置 |
X-Y移動(dòng)行程 | 8英寸*8英寸/12英寸*12英寸 |
X-Y移動(dòng)精度 | 10微米/1微米 |
樣品固定 | 真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán) |
針座平臺(tái) | U型針座平臺(tái)，多可放置10個(gè)探針座 |
平臺(tái)升降 | 可快速升降6mm/可微調(diào)升降25mm |
背電極測(cè)試 | 樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空，4mm插孔可接背電極 |
外形尺寸 | 840mm長(zhǎng)*600mm寬*700mm高/950mm長(zhǎng)*700mm寬*700mm高 |
重量 | 約100千克/150千克 |
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