IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224特點：

1.1 原理簡述

   雙脈沖測試平臺主要是通過特定程序控制功率元件在可控范圍內(nèi)兩次開通，并測量過程中各 種動態(tài)參數(shù)，特別是在不同母線電壓，不同溫度下參數(shù)差異，是評估 FRD 和 IGBT 二十多種 動態(tài)參數(shù)重要測量手段。同時也是功率元件驅(qū)動及保護電路參數(shù)調(diào)整和驗證的測量平臺。

1.2 原理框圖

IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224主要作用

1、測試對比不同 IGBT 的參數(shù)； 

2、評估驅(qū)動的功能和性能； 

3、獲取 IGBT 在開通、關(guān)斷過程的主要參數(shù)，以評估 Rgon 及 Rgoff 的數(shù)值是否合適； 

4、開通、關(guān)斷過程是否有不合適的震蕩； 

5、評估二極管的反向恢復行為和安全余量； 

6、IGBT 關(guān)斷時的電壓尖峰是否合適，關(guān)斷之后是否存在不合適的震蕩； 

7、評估 IGBT 并聯(lián)的均流特性； 

8、測量母排和系統(tǒng)的雜散電感。

9、可兼容 TO-252、TO263、TO-3P、TO-247、ME4、HP1、Hpdriver 等封裝；如特殊封裝可 以定制開發(fā)適配版。

通過此設備與示波器連接測試項目